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検索キーワード:(件名: Integrated circuits Very large scale integration Testing)
該当件数:4件
Digital circuit testing and testability / Parag K. Lala
San Diego : Academic Press , c1997
図書
Hierarchical modeling for VLSI circuit testing / by Debashis Bhattacharya, John P. Hayes
Boston : Kluwer Academic Publishers , c1990. - (The Kluwer international series in engineering and computer science ; VLSI, computer architecture, and digital signal processing)
Rapid reliability assessment of VLSICs / A.P. Dorey ... [et al.]
New York : Plenum Press , c1990
Built-in test for VLSI : pseudorandom techniques / Paul H. Bardell, William H. McAnney, Jacob Savir
New York : Wiley , c1987