富山県立大学の資料を検索します。
CiNii Booksを検索します。
NDLサーチを検索します。
CiNii Researchを検索します。
CiNii Dissertationsを検索します。
本学の蔵書を検索した結果です。電子媒体は詳細画面から外部へリンクする事が可能です。
検索キーワード:(著者名に左の語を含む: #Symposium on Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors)
該当件数:1件
Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A. / editors, Noble M. Johnson, Stephen G. Bishop, George D. Watkins
Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society , c1985. - (Materials Research Society symposia proceedings ; v. 46)
図書