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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 LSI故障解析技術 / 二川清著 A1 二川, 清(1949-) YR 2011 FD 2011.9 SP x, 194p, 図版 [8]p K1 大規模集積回路 ED 新版 PB 日科技連出版社 PP 東京 SN 9784817194145 LA Japanese (日本語) CL NDC9:549.7 CL NDLC:ND386 NO 「LSI故障解析技術のすべて」(工業調査会2007年刊)の改訂 NO 参考文献: p181-187 NO 巻末: 索引あり NO 書誌ID=B000107070; NCID=BB07426588; LK [OPAC]https://lib.pu-toyama.ac.jp/opac/opac_link/bibid/B000107070 OL 58