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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー / 二川清著 A1 二川, 清(1949-) YR 2007 FD 2007.11 SP 221p, 図版[7]p K1 集積回路 PB 工業調査会 PP 東京 SN 9784769312697 LA Japanese (日本語) CL NDC8:549.7 CL NDC9:549.7 NO 参考文献: p[205]-214 NO 書誌ID=B000100516; NCID=BA84153482; LK [OPAC]https://lib.pu-toyama.ac.jp/opac/opac_link/bibid/B000100516 OL 58