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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 赤外分析法 / 佐伯慎之助著 T2 機器分析実験法講座 A1 佐伯, 慎之助 YR 1963 FD 1963.12 SP 2, 2, 376p K1 機器分析 PB オーム社 PP 東京 LA Japanese (日本語) CL NDC8:433 NO 各章末: 文献 NO 書誌ID=B000012745; NCID=BN03312457; LK [OPAC]https://lib.pu-toyama.ac.jp/opac/opac_link/bibid/B000012745 OL 58