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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 はじめてのデバイス評価技術 / 二川清著 A1 二川, 清(1949-) YR 2012 FD 2012.9 SP xi, 179p K1 半導体 ED 第2版 PB 森北出版 PP 東京 SN 9784627774421 LA Japanese (日本語) CL NDC8:549.8 CL NDC9:549.8 NO 初版: 工業調査会, 2000年刊 NO 参考文献・引用文献: p169-175 NO 書誌ID=B000107827; NCID=BB10206954; LK [OPAC]https://lib.pu-toyama.ac.jp/opac/opac_link/bibid/B000107827 OL 58