OPAC

ロンリトテスト
論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
(岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2)

データ種別	図書
出版者	東京 : 岩波書店
出版年	1985.5
本文言語	日本語
大きさ	x, 313p ; 22cm
著者標目	樹下, 行三(1936-) <キノシタ, コウゾウ> 浅田, 邦博 <アサダ, クニヒロ> 唐津, 修(1947-) <カラツ, オサム>

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
4	射水-1階-和書	549.08\|\|I94\|\|4	100593532						予約		予約
4	射水-1階-和書	549.08\|\|I95\|\|4A	100685270						予約		予約