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Digital circuit testing and testability / Parag K. Lala
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | San Diego : Academic Press |
| 出版年 | c1997 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xii, 199 p. : ill. ; 24 cm |
| 著者標目 | *Lala, Parag K., 1948- |
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| 巻 次 | 配架場所 | 請求記号 | 登録番号 | コメント | 刷 年 | 状 態 | 利用注記 | ISBN | 予約 | 請求メモ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
射水-研究室 | 549.7||L14 | 101394815 |
|
1997 |
|
0124343309 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
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LCSH:Digital integrated circuits -- Testing 全ての件名で検索 LCSH:Integrated circuits -- Fault tolerance 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7874.75 DC20:621.39/5/0287 |
| 書誌ID | B000057609 |
| ISBN | 0124343309 |
| NCID | BA30378332 |
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