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1991 proceedings : Annual Reliability and Maintainability Symposium : Orlando, Florida USA, 1991 January 29-31

データ種別 図書
出版者 New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers
出版年 c1991
本文言語 英語
大きさ xx, 623, 75 p. : ill. ; 28 cm
著者標目 *Reliability and Maintainability Symposium

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1991 射水-1階-洋書 509.6||R25||91 101577476



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別書名 背表紙タイトル:1991 Reliability and Maintainability Symposium
異なりアクセスタイトル:91CH2966-0
一般注記 "IEEE catalog number: 91CH2966-0."
書誌ID B000092035
NCID BA12359405