OPAC

Atom-probe field ion microscopy and its applications / Toshio Sakurai, A. Sakai, H.W. Pickering
(Advances in electronics and electron physics ; Supplement 20)

データ種別	図書
出版者	Boston : Academic Press
出版年	c1989
本文言語	英語
大きさ	vii, 299 p : ill. ; 24 cm
著者標目	酒井, 明 <サカイ, アキラ> Pickering, H. W. 桜井, 敏雄(1927-) <サクライ, トシオ>

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	549.97\|\|SA47	101112357						予約		予約

一般注記	Bibliography: p. 275-292 Includes index
分　類	NDC7:549
書誌ID	B000073282
ISBN	0120145820
NCID	BA06995219