Digital circuit testing and testability / Parag K. Lala
データ種別 | 図書 |
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出版者 | San Diego : Academic Press |
出版年 | c1997 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | xii, 199 p. : ill. ; 24 cm |
著者標目 | *Lala, Parag K., 1948- |
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巻 次 | 配架場所 | 請求記号 | 登録番号 | コメント | 刷 年 | 状 態 | 利用注記 | ISBN | 予約 | 請求メモ |
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射水-研究室 | 549.7||L14 | 101394815 |
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1997 |
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0124343309 |
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一般注記 | Includes bibliographical references and index |
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件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
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LCSH:Digital integrated circuits -- Testing 全ての件名で検索 LCSH:Integrated circuits -- Fault tolerance 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:TK7874.75 DC20:621.39/5/0287 |
書誌ID | B000057609 |
ISBN | 0124343309 |
NCID | BA30378332 |
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