OPAC

Annual Reliability and Maintainability Symposium : 2002 proceedings : Seattle, Washington USA, 2002 January 28-31

データ種別	図書
出版者	Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronics Engineers
出版年	c2002
本文言語	英語
大きさ	xxiv, 662 p. : ill. ; 28 cm
著者標目	*Reliability and Maintainability Symposium

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
2002	射水-1階-洋書	509.6\|\|R25\|\|02	101577575						予約		予約

別書名	異なりアクセスタイトル:02CH37318
一般注記	Includes bibliographical references and index "IEEE catalog number: 02CH37318" -- T. p. verso "The International Symposium on Product Quality & Integrity"
分　類	NDC8:509.8
書誌ID	B000092045
ISBN	0780373480
NCID	BA5654853X