OPAC

Annual Reliability and Maintainability Symposium : 1996 proceedings : Las Vegas, Nevada USA, 1996 January 22-25

データ種別	図書
出版者	[New York] : Institute of Electrical and Electronics Engineers
出版年	c1996
本文言語	英語
大きさ	xx, 359, 83 p. : ill. ; 28 cm
著者標目	*Reliability and Maintainability Symposium

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