OPAC

Annual Reliability and Maintainability Symposium : 1995 proceedings : Washington, DC USA, 1995 January 16-19

データ種別	図書
出版者	[New York] : Institute of Electrical and Electronics Engineers
出版年	c1995
本文言語	英語
大きさ	xx, 535, 101 p. : ill. ; 28 cm
著者標目	*Reliability and Maintainability Symposium

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
1995	射水-1階-洋書	509.6\|\|R25\|\|95	101577500						予約		予約

別書名	異なりアクセスタイトル:95CH35743 異なりアクセスタイトル:95CB35743
一般注記	"IEEE catalog number: 95CH35743"
分　類	NDC8:509.8
書誌ID	B000092038
ISBN	0780324706
NCID	BA2526714X