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デバイス ブヒン ノ コショウ カイセキ
デバイス・部品の故障解析 / 二川清[ほか]著
(信頼性110番シリーズ ; 1)

データ種別 図書
出版者 東京 : 日科技連出版社
出版年 1992.9
本文言語 日本語
大きさ x, 127p ; 21cm
著者標目 二川, 清(1949-) <ニカワ, キヨシ>

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射水-1階-和書 549.8||N73 101012623



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件 名 BSH:半導体
BSH:集積回路
BSH:信頼性(工学)
分 類 NDC8:549.8
書誌ID B000080064
ISBN 481713027X
NCID BN08119512

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