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Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications / Lawrence E. Murr
(Optical engineering ; v. 29)

データ種別	図書
版	2nd ed., rev. and expanded
出版者	New York : M. Dekker
出版年	c1991
本文言語	英語
大きさ	xiv, 837 p. : ill. ; 27 cm
著者標目	*Murr, Lawrence Eugene

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