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デバイス・ブヒン ノ シンライセイ シケン
デバイス・部品の信頼性試験 / 高久清〔ほか〕著
(信頼性110番シリーズ ; 2)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : 日科技連出版社 |
| 出版年 | 1992.9 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | x, 164p ; 21cm |
| 著者標目 | 高久, 清(1943-) <タカヒサ, キヨシ> |
所蔵情報を非表示
| 巻 次 | 配架場所 | 請求記号 | 登録番号 | コメント | 刷 年 | 状 態 | 利用注記 | ISBN | 予約 | 請求メモ |
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射水-1階-和書 | 549.8||Ta33 | 101012748 |
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