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Yield modelling and defect tolerance in VLSI : papers presented at the International Workshop on Designing for Yield, Oxford, 1-3 July 1987 / edited by Will Moore, Wojciech Maly, and Andrzej Strojwas

データ種別	図書
出版者	Bristol : Philadelphia : A. Hilger
出版年	c1988
本文言語	英語
大きさ	vi, 282 p. ill. ; 24 cm
著者標目	Moore, Will Maly, W. Strojwas, Andrzej J.

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	549.7\|\|I57	100796523						予約		予約

一般注記	Includes bibliographies and index
件　名	LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction -- Congresses 全ての件名で検索
分　類	LCC:TK7874 DC19:621.381/73
書誌ID	B000086869
ISBN	085274398X
NCID	BA03911096