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Speckle metrology / edited by Rajpal S. Sirohi
(Optical engineering ; v. 38)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Marcel Dekker Inc. |
| 出版年 | c1993 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xiii, 551 p. : ill. ; 24 cm |
| 著者標目 | Sirohi, Rajpal S. |
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| 巻 次 | 配架場所 | 請求記号 | 登録番号 | コメント | 刷 年 | 状 態 | 利用注記 | ISBN | 予約 | 請求メモ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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射水-1階-洋書 | 501.22||SP3 | 101110427 |
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書誌詳細を非表示
| 件 名 | LCSH:Non-destructive testing LCSH:Speckle metrology |
|---|---|
| 分 類 | LCC:TA417.2 DC20:620.1/127 |
| 書誌ID | B000081557 |
| ISBN | 0824789326 |
| NCID | BA20564159 |
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