OPAC

Point defects in semiconductors / M. Lannoo, J. Bourgoin ; with a foreword by J. Friedel
(Springer series in solid-state sciences ; 22, 35)

データ種別	図書
出版者	Berlin ; New York : Springer-Verlag
出版年	1981-1983
本文言語	英語
大きさ	2 v. : ill. ; 24 cm
著者標目	*Lannoo, M. (Michel), 1942- Bourgoin, J. (Jacques), 1938-

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
v. 2 : us	射水-1階-洋書	428.8\|\|SP8\|\|35	101142032						予約		予約
v. 2 : us	射水-2階-電動書庫	428.8\|\|L27\|\|2	101112514					0387115153	予約	請求メモ	予約	請求メモ

一般注記	v. 1. Theoretical aspects v. 2. Experimental aspects Vol. 2 by J. Bourgoin, M. Lannoo, with a foreword by G.D. Watkins Includes bibliographical references and index
件　名	LCSH:Semiconductors -- Defects 全ての件名で検索 LCSH:Point defects
分　類	LCC:QC611.6.D4 DC19:537.6/22 NDC8:428.4
書誌ID	B000043158
ISBN	0387105182
NCID	BA01492094