OPAC

Design & test techniques for VLSI & WSI circuits / edited by R.E. Massara
(IEE Computing series ; 15)

データ種別	図書
出版者	London : Peter Peregrinus on behalf of the Institution of Electrical Engineers
出版年	c1989
本文言語	英語
大きさ	vi, 315 p. : ill. ; 24 cm
著者標目	*Massara, R. E., 1947-

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	549.7\|\|D64	101108751						予約		予約

別書名	異なりアクセスタイトル:Design and test techniques for VLSI and WSI circuits
件　名	PRECIS:Electronic equipment. Very large scale integrated circuits. Design LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration 全ての件名で検索
分　類	LCC:TK7874 DC19:621.381/73
書誌ID	B000086844
ISBN	0863411657
NCID	BA09896676