Process and device simulation for MOS-VLSI circuits / edited by Paolo Antognetti ... [et al.]
(NATO ASI series ; ser. E . Applied sciences ; no. 62)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Boston : Nijhoff |
出版者 | Hingham, MA : Nijhoff |
本文言語 | 英語 |
大きさ | xii, 619 p. : ill. ; 25 cm |
著者標目 | *NATO Advanced Study Institute on Process and Device Simulation for MOS-VLSI Circuits Antognetti, Paolo |
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巻 次 | 配架場所 | 請求記号 | 登録番号 | コメント | 刷 年 | 状 態 | 利用注記 | ISBN | 予約 | 請求メモ |
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射水-1階-洋書 | 549.8||N57 | 101140309 |
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一般注記 | "Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Process and Device Simulation for MOS-VLSI Circuits, SOGESTA, Urbino, Italy, July 12-23, 1982"--T.p. verso "Published in cooperation with NATO Scientific Affairs Division." Includes bibliographical references |
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件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Simulation methods -- Congresses
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LCSH:Metal oxide semiconductors -- Simulation methods -- Congresses 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:TK7874 DC19:621.381/73 |
書誌ID | B000052620 |
ISBN | 902472824X |
NCID | BA07247854 |
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