OPAC

Rapid reliability assessment of VLSICs / A.P. Dorey ... [et al.]

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	549.7\|\|R17	101107225						予約		予約

一般注記	Includes bibliographical references and index
件　名	LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing 全ての件名で検索 LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Reliability 全ての件名で検索
分　類	LCC:TK7874 DC20:621.39/5
書誌ID	B000086902
ISBN	030643492X
NCID	BA12410207