OPAC

Hierarchical modeling for VLSI circuit testing / by Debashis Bhattacharya, John P. Hayes
(The Kluwer international series in engineering and computer science ; VLSI, computer architecture, and digital signal processing)

データ種別	図書
出版者	Boston : Kluwer Academic Publishers
出版年	c1990
本文言語	英語
大きさ	x, 159 p. : ill. ; 24 cm
著者標目	*Bhattacharya, Debashis, 1961- Hayes, John P. (John Patrick), 1944-

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	549.7\|\|B39	101106847						予約		予約

一般注記	Includes bibliographical references (p. [149]-155)
件　名	LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing 全ての件名で検索 LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Computer simulation 全ての件名で検索
分　類	LCC:TK7874 DC20:621.39/5/0287
書誌ID	B000086827
ISBN	079239058X
NCID	BA09998982