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Built-in test for VLSI : pseudorandom techniques / Paul H. Bardell, William H. McAnney, Jacob Savir

データ種別	図書
出版者	New York : Wiley
出版年	c1987
本文言語	英語
大きさ	xiii, 354 p. : ill. ; 24 cm
著者標目	*Bardell, Paul H. McAnney, William H. Savir, Jacob

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	549.7\|\|B21	100796341						予約		予約

一般注記	"A Wiley-Interscience publication." Bibliography: p. 339-345 Includes index
件　名	LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing 全ての件名で検索
分　類	LCC:TK7874 DC19:621.381/73
書誌ID	B000086824
ISBN	0471624632
NCID	BA03837947