OPAC

VLSI reliability / Anant G. Sabnis
(VLSI electronics : microstructure science / edited by Norman G. Einspruch ; v. 22)

データ種別	図書
出版者	San Diego : Tokyo : Academic Press
出版年	c1990
本文言語	英語
大きさ	xiii, 207 p. : ill. ; 24 cm
著者標目	*Sabnis, Anant G.

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
Volume 22	射水-1階-洋書	549.7\|\|V84\|\|22	101109775						予約		予約

一般注記	Includes bibliographical references and index
件　名	LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Reliability 全ての件名で検索
分　類	LCC:TK7874 DC20:621.39/5 s DC20:621.39/5 NDC8:549.7
書誌ID	B000043776
ISBN	0122341228
NCID	BA10165146