OPAC

Hot carrier design considerations for MOS devices and circuits / edited by Cheng T. Wang

データ種別	図書
出版者	New York : Van Nostrand Reinhold
出版年	c1992
本文言語	英語
大きさ	xiii, 334 p. : ill. ; 24 cm
著者標目	Wang, Cheng T.

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	549.8\|\|H96	101139681		1992			0442001215	予約		予約

一般注記	Includes bibliographical references and index
件　名	LCSH:Metal oxide semiconductors -- Design and construction 全ての件名で検索 LCSH:Metal oxide semiconductors -- Reliability 全ての件名で検索
分　類	LCC:TK7871.99.M44 DC20:621.3815/2
書誌ID	B000065166
ISBN	0442001215
NCID	BA19241990