OPAC

Defects and properties of semiconductors : defect engineering / edited by J. Chikawa, K. Sumino, and K. Wada
(Advances in solid state technology)

データ種別	図書
出版者	Tokyo : KTK Scientific
出版者	Dordrecht : KTK Scientific
出版者	Norwell, MA, U.S.A. : KTK Scientific
本文言語	英語
大きさ	vi, 261 p. : ill. ; 24 cm
著者標目	Chikawa, J. (Junichi), 1930- Sumino, K. (Kōji), 1931- Wada, K. (Kazumi), 1950- Symposium on "Defects and Qualities of Semiconductors" (1984 : Tokyo, Japan) Society of Non-Traditional Technology (Japan)

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	549.8\|\|D53	100796820						予約		予約

一般注記	Includes bibliographies and index "Papers presented at the Symposium on "Defects and Qualities of Semiconductors" which was held in Tokyo on May 17-18, 1984 under the sponsorship of the Society of Non-Traditional Technology"--Pref
件　名	LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses 全ての件名で検索
分　類	LCC:QC611.6.D4 DC19:621.3815/2
書誌ID	B000052839
ISBN	9027723524
NCID	BA0364350X