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Characterization of defects in materials : symposium held December 1-2, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A. / editors, Richard W. Siegel, Julia R. Weertman, Robert Sinclair
(Materials Research Society symposia proceedings ; v. 82)

データ種別	図書
出版者	Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society
出版年	c1987
本文言語	英語
大きさ	xv, 532 p. : ill. ; 24 cm
著者標目	Siegel, Richard W. Sinclair, Robert Weertman, Julia R. (Julia Randall) Materials Research Society Materials Research Society. Meeting Symposium on the Characterization of Defects in Materials

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	501\|\|MA71\|\|82	101122927						予約		予約

一般注記	Includes bibliographies
件　名	LCSH:Materials -- Defects -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Crystals -- Defects -- Congresses 全ての件名で検索
分　類	LCC:TA418.5 DC19:620.1/12
書誌ID	B000081245
ISBN	0931837472
NCID	BA01314391