Mendeley出力
Developments in integrated circuit testing / D.M. Miller, editor
(Perspectives in computing ; v. 18)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | London : Academic Press |
| 出版年 | 1987 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | x, 440 p. : ill. ; 24 cm |
| 著者標目 | Miller, D. M. |
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| 巻 次 | 配架場所 | 請求記号 | 登録番号 | コメント | 刷 年 | 状 態 | 利用注記 | ISBN | 予約 | 請求メモ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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射水-1階-洋書 | 549.7||D66 | 101112225 |
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| 一般注記 | Includes bibliography and index |
|---|---|
| 件 名 | PRECIS:Digital integrated circuits. Testing LCSH:Digital integrated circuits -- Testing 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7874 DC19:621.381/71 |
| 書誌ID | B000086845 |
| ISBN | 0124967353 |
| NCID | BA03599000 |
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