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Reliability and degradation : semiconductor devices and circuits / edited by M.J. Howes, D.V. Morgan
(The Wiley series in solid state devices and circuits)

データ種別	図書
出版者	Chichester : New York : J. Wiley
出版年	c1981
本文言語	英語
大きさ	xii, 444 p. : ill. ; 24 cm
著者標目	Howes, M. J. Morgan, D. V.

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