OPAC

Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A. / editors, Noble M. Johnson, Stephen G. Bishop, George D. Watkins
(Materials Research Society symposia proceedings ; v. 46)

データ種別	図書
出版者	Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society
出版年	c1985
本文言語	英語
大きさ	xv, 604 p. : ill. ; 24 cm
著者標目	Johnson, Noble M. Bishop, Stephen G. Watkins, George D. Materials Research Society Materials Research Society. Meeting Symposium on Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	501\|\|MA71\|\|46	101122851						予約		予約

一般注記	Includes bibliographies and indexes
件　名	LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Microscope and microscopy -- Congresses 全ての件名で検索
分　類	LCC:TK7871.85 DC19:621.3815/2
書誌ID	B000081222
ISBN	0931837111
NCID	BA03908080