OPAC

Design & test of computers, IEEE / IEEE Computer Society

データ種別	電子ジャーナル
出版者	[New York] : Institute of Electrical and Electronics Engineers
別書名	略タイトル:IEEE des. test comput 異なりアクセスタイトル:IEEE design & test of computers 異なりアクセスタイトル:IEEE design and test of computers 異なりアクセスタイトル:Design and test of computers 異なりアクセスタイトル:M-D&T
変遷注記	継続後誌:IEEE design & test / IEEE
資料種別	機械可読データファイル
URL1	https://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=54

配架場所	所蔵巻号	年次	請求記号	コメント
射水-電子	1-29	1984-2012		IEEE-CSDL

本文言語	英語
刊行頻度	隔月刊
一般注記	Access: via WWW Title from title screen Frequency: quartely, vol. 8 (1991)-v. 17 (2000); bimonthly, vol. 5 (1988)-v. 7 (1990), v. 18 (2001)- Description based on printout of online display of: v. 22, issue 1 (Jan. 2005)
著者標目	IEEE Computer Society Institute of Electrical and Electronics Engineers
件　名	LCSH:Computer engineering -- Periodicals 全ての件名で検索 LCSH:Electronic digital computers -- Testing -- Periodicals 全ての件名で検索
書誌ID	B000104218
ISSN	07407475