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ザンリュウオウリョクノ Xセンヒョウカ : キソトオウヨウ
残留応力のX線評価 : 基礎と応用 / 田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著

データ種別	図書
出版者	東京 : 養賢堂
出版年	2006.7
本文言語	日本語
大きさ	vii, 363p : 挿図 ; 21cm
著者標目	田中, 啓介(1943-) <タナカ, ケイスケ> 鈴木, 賢治(1958-) <スズキ, ケンジ> 秋庭, 義明(1959-) <アキニワ, ヨシアキ>

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-和書	501.32\|\|Ta84	101664365						予約		予約

別書名	その他のタイトル:Evaluation of residual stresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications 異なりアクセスタイトル:残留応力のX線評価 : 基礎と応用異なりアクセスタイトル:Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
一般注記	欧文タイトル (誤植): Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications 欧文タイトルは標題紙裏による参考文献: 各章末
件　名	NDLSH:応力
分　類	NDC9:501.32
書誌ID	B000103242
ISBN	484250384X
NCID	BA77874054