OPAC

The role of microscopy in semiconductor failure analysis / B.P. Richards and P.K. Footner
(Microscopy handbooks ; 25)
(Oxford science publications)

データ種別	図書
出版者	Oxford : Oxford University Press : Royal Microscopical Society
出版年	1992
本文言語	英語
大きさ	vi, 108 p. : ill. ; 24 cm
著者標目	*Richards, B. P. Footner, P. K.

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	549.8\|\|R35	101138683						予約		予約

一般注記	Includes bibliographical references (p. [98]-101) and index
件　名	LCSH:Semiconductors -- Testing 全ての件名で検索 LCSH:Semiconductors -- Failures 全ての件名で検索 LCSH:Microscopes and microscopy
分　類	LCC:TK7871.85 DC20:621.3815/2/0287
書誌ID	B000086979
ISBN	0198564325
NCID	BA19076522