OPAC

Properties of silicon
(EMIS datareviews series ; no. 4)

データ種別	図書
出版者	London ; New York : INSPEC, Institution of Electrical Engineers
出版年	c1988
本文言語	英語
大きさ	xxv, 1100 p. ; 29 cm
著者標目	INSPEC (Information service)

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	549.8\|\|P94	100797000		1988			0852964757	予約		予約
	射水-1階-洋書	549.8\|\|P94	100841402		1988			0852964757	予約		予約

一般注記	Includes bibliographies and index
件　名	LCSH:Silicon
分　類	LCC:TK7871.15.S55 DC19:620.1/93
書誌ID	B000086975
ISBN	0852964757
NCID	BA06824420