Yield modelling and defect tolerance in VLSI : papers presented at the International Workshop on Designing for Yield, Oxford, 1-3 July 1987 / edited by Will Moore, Wojciech Maly, and Andrzej Strojwas
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Bristol : Philadelphia : A. Hilger |
出版年 | c1988 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | vi, 282 p. ill. ; 24 cm |
著者標目 | Moore, Will Maly, W. Strojwas, Andrzej J. |
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巻 次 | 配架場所 | 請求記号 | 登録番号 | コメント | 刷 年 | 状 態 | 利用注記 | ISBN | 予約 | 請求メモ |
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射水-1階-洋書 | 549.7||I57 | 100796523 |
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一般注記 | Includes bibliographies and index |
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件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction -- Congresses 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:TK7874 DC19:621.381/73 |
書誌ID | B000086869 |
ISBN | 085274398X |
NCID | BA03911096 |
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