OPAC

Automated inspection and measurement : 28-30 October 1986, Cambridge, Massachusetts / Michael J.W. Chen, Robert Thibadeau, chairs/editors : sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating organizations, Carnegie Mellon University, Sira Ltd. (United Kingdom), Tufts University/Electro-Optics Technology Center
(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 730)

データ種別	図書
出版者	Bellingham, Wash., USA : SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版年	c1987
本文言語	英語
大きさ	vi, 256 p. : ill. ; 28 cm
著者標目	Chen, Michael J. W. Thibadeau, Robert Society of Photo-optical Instrumentation Engineers

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	425.5\|\|A96	100686047						予約		予約

一般注記	Includes bibliographies and index
件　名	LCSH:Engineering inspection -- Automation -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Quality control -- Optical methods -- Congresses 全ての件名で検索
分　類	LCC:TS156.2 DC19:681/.2
書誌ID	B000083582
ISBN	089252765X
NCID	BA24042031