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Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder

データ種別	図書
出版者	New York : Wiley
出版年	c1990
本文言語	英語
大きさ	xv, 599 p. : ill. ; 25 cm
著者標目	*Schroder, Dieter K.

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巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	549.8\|\|SC7	100842046						予約		予約
	射水-1階-洋書	549.8\|\|SC7	101108991						予約		予約
	射水-1階-洋書	549.8\|\|SC7	101113793						予約		予約

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一般注記	"A Wiley-Interscience publication." Includes bibliographical references and index
件　名	LCSH:Semiconductors LCSH:Semiconductors -- Testing 全ての件名で検索
分　類	LCC:QC611 DC20:621.381/52
書誌ID	B000049433
ISBN	0471511048
NCID	BA10754759