OPAC

X-ray microscopy II : proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31-September 4, 1987 / D. Sayre ... [et al.] (eds.)
(Springer series in optical sciences ; v. 56)

データ種別	図書
出版者	Berlin : New York : Springer-Verlag
出版年	c1988
本文言語	英語
大きさ	xiv, 454 p. : ill. ; 24 cm
著者標目	Sayre, David International Symposium on X-ray Microscopy

巻　次	配架場所	請求記号	登録番号	コメント	刷　年	状　態	利用注記	ISBN	予約	請求メモ
	射水-1階-洋書	425.08\|\|SP8\|\|56	101167138						予約		予約

一般注記	Based on papers presented at the International Symposium on X-ray Microscopy held at Brookhaven National Laboratory Includes bibliographies and index
件　名	LCSH:X-ray microscope -- Congresses 全ての件名で検索
分　類	LCC:QH212.X2 DC19:535/.332
書誌ID	B000048548
ISBN	0387193928
NCID	BA04554427