ロンリ ト テスト
論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
(岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | 東京 : 岩波書店 |
出版年 | 1985.5 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | x, 313p ; 22cm |
著者標目 | 樹下, 行三(1936-) <キノシタ, コウゾウ> 浅田, 邦博 <アサダ, クニヒロ> 唐津, 修(1947-) <カラツ, オサム> |
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巻 次 | 配架場所 | 請求記号 | 登録番号 | コメント | 刷 年 | 状 態 | 利用注記 | ISBN | 予約 | 請求メモ |
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4 | 射水-1階-和書 | 549.08||I94||4 | 100593532 |
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4 | 射水-1階-和書 | 549.08||I95||4A | 100685270 |
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