ニカワ, キヨシ
二川, 清(1949-)
著者名典拠詳細を表示
| 著者の属性 | 個人 |
|---|---|
| 場所 | 大阪市 |
| 一般注記 | 「デバイス・部品の故障解析」 (日科技連出版社, 1992.9) JP92068746 EDSRC:はじめてのデバイス評価技術 / 二川清編 (工業調査会, 2000.1) |
| 生没年等 | 1949 |
| から見よ参照 | 二川, 清<ニカワ, キヨシ> |
| コード類 | 典拠ID=AU00015357 NCID=DA07045335 |
| 1 | はじめてのデバイス評価技術 / 二川清著 第2版. - 東京 : 森北出版 , 2012.9 |