ヨコガワ, シンジ
横川, 慎二 (1970-)
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著者の属性 | 個人 |
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一般注記 | 工学博士 SRC:信頼性データ解析 / 鈴木和幸編著 ; 益田昭彦, 石田勉, 横川慎二著(日科技連出版社, 2009.11) EDSRC:信頼性試験技術 / 益田昭彦編著, 鈴木和幸 [ほか] 著(日科技連出版社, 2019.12) 電気通信大学i-パワードエネルギー・システム研究センター,同大学大学院情報理工学研究科,同大学情報理工学域 教授 |
生没年等 | 1970 |
コード類 | 典拠ID=AU00023124 NCID=DA17025797 |
1 | 信頼性試験技術 / 益田昭彦編著 ; 鈴木和幸 [ほか] 著 東京 : 日科技連出版社 , 2019.12 |